Fokus i designet er på brugervenlighed og enkelhed, og det kan fungere uafbrudt i mere end en måned på et enkelt PP3-batteri. Testeren vil teste bipolære transistorer, men den er ikke i stand til at arbejde med FET'er.
Testeren aktiveres ved at trykke på den iest-knap, som faktisk er tænd/sluk-kontakten, og den mistænkelige transistor tilsluttes en panelstik.
De to LED'ers tilstand viser testresultatet (tabel 1).
Hvordan kredsløbet fungerer
Transistoren under tests kollektor og emitter udsættes for fluktuerende bipolære signaler i et fælles basiskredsløb af testeren, hvilket får strøm til at flyde i lysdioderne, mens transistoren leder.
For at skelne mellem et dødt batteri og en åben kredsløbstransistor er der en batteritestknap.
Hvis batteriet er sundt, vil et tryk på denne knap blinke begge LED'er for at efterligne en C-E kortslutning.
Testeren bruger en 8-benet dual op-amp chip, i mit tilfælde IC 1458, som svarer til dual 741. Imidlertid kan forskellige pin-kompatible enheder, såsom 353 dual J-FET-forstærkeren, bruges i stedet for.
LED specifikationer
Til sidst brugte jeg to 0,2-tommer grønne LED'er med etiketterne NPN og PNP som indikatorerne. En tidligere prototype brugte en grøn LED til NPN og en rød til PNP, som så meget bedre ud, men det er nødvendigt at bruge intensitetsmatchede LED'er, hvis du er interesseret i et tofarvet display.
Da jeg opdagede, at mit nye sæt røde lysdioder brugte langt mere strøm end de grønne gjorde, opgav jeg projektet.
Bekræftede intensitetsmatchede LED'er er dyrere; som erstatning, brug røde og grønne lysdioder med samme gennemsnitlige lysudbytte (målt i mcd: millicandelas) og i mA).
Dette er afgørende, fordi når først batteriet er på plads, kan den anden lysdiode lyse meget svagt, hvis en god transistor bliver testet (på grund af omvendt ledning), eller hvis den korrekte er ret svag.
Det kunne være forvirrende.
Sådan opsættes
Transistortesteren kan sættes op på to forskellige måder: en enkel måde og en mere kompleks, men alligevel pålidelig.
Begge gange testes kredsløbet ved at simulere en C-E kortslutning (ved at trykke på batteritestknappen), og trimpotten RV1 justeres, indtil kredsløbet fungerer efter behov.
Ved omkring 3Hz skal de to lysdioder skiftevis blinke. Hvis ikke, må du have lavet en form for fejl. Læs videre, forudsat at de gør det.
Den enkleste metode er at modificere RV1, indtil den ønskede respons opnås for alle enheder, mens der bruges et sæt kendte perfekte transistorer.
BC184, BC274 (højforstærket NPN og PNP lille signal), TIP31, TIP32 (3 A NPN og PNP medium forstærkningseffekt) og TIP3055, TlP2955 (15 A NPN og PNP lav forstærkningseffekt) udgør et fælles sæt.
RV1 er i den nominelle midterste position.
Hver transistor placeres i soklen en ad gangen, derefter trykkes testknappen ned.
Derefter justeres RV1 støt, indtil LED'erne viser den rigtige rækkefølge. Det er vigtigt at bruge transistorerne i den nøjagtige rækkefølge: Juster først BC184 og BC214, indtil testeren viser, at begge er nøjagtige, juster derefter TIP31 og TIP32 mere fint, og tuner derefter TIP3055 og T1P2955 til mindst mulig grad.
Genkontrol skulle så give det rigtige resultat ved at bruge enhver transistor tilfældigt.
Denne opsætningsteknik har den ulempe, at den ikke tager højde for ydeevneforskydning, efterhånden som testerens batteri ældes.
I et lavt strømforbrug som dette kredsløb kan en frisk PP3 generere så meget som 9,6V.
Vi ønsker, at testeren skal fungere så længe som muligt på en enkelt celle, f.eks. ned til cirka 8V, hvilket er så lavt, som vi faktisk tør.
Universal BJT, JFET, MOSFET testerkredsløb
Denne nyttige transistortester giver brugeren mulighed for hurtigt at kontrollere funktionaliteten af en NPN/PNP transistor, JFET eller (V) MOSFET samt bestemme orienteringen af deres terminaler, eller benene passende.
En tre-benet BJT eller FET giver i alt 6 mulige korrelerede konfigurationer, men kun en enkelt vil sandsynligvis være den rigtige.
Dette universelle transistor testerkredsløb tilbyder en nem og idiotsikker genkendelse af den passende transistorkonfiguration samt skaber en praktisk undersøgelse af transistoren samtidigt.
Hvordan kredsløbet fungerer
Testerkredsløbet indeholder i sig selv en transistor, der sammen med transistor-under-test (TUT) danner en astabil multivibrator kredsløb.
Testeren har 5 testslots i umiddelbar nærhed af hinanden, bestemt af deres respektive mærkning:
E/S - B/G - C/D - E/S - B/G
Dette arrangement gør det muligt for nedenstående viste enheder at blive undersøgt gennem de nævnte konfigurationer:
• Bipolære transistorer: EBC / BCE / CEB, og omvendt: BEC / ECB / CBE.
• Unipolære transistorer (FET'er): SGD / GDS / DSG og omvendt: GSD / SDG / DGS.
